by 約翰·特納 | 2023 年 11 月 2 日 | 未分類
儲存粒徑小於 100 nm 的校準晶圓標準品的最佳方法是什麼? 潔淨室通常在 70°F、約 21°C 的溫度下運行,濕度通常在 40% 左右。 當使用校準晶圓標準來校準您的晶圓檢查時...
by 約翰·特納 | 2020 年 2 月 10 日 | 二氧化矽顆粒
二氧化矽粒徑標準 在當今的半導體計量實驗室中,晶圓檢測工具使用高功率激光掃描 200 毫米和 300 毫米矽晶圓,以檢測小於 30 納米的表面顆粒。 校準高激光功率掃描時...